产品详情
简单介绍：
X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。
X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
详情介绍：
X射线镀层测厚仪
STARK系列用于首饰及合金中的金属元素分析、金属镀层厚度测量专为珠宝首饰行业定制的检测仪器。
贵金属是制造首饰的基础物质，同时也普遍应用在高技术产业中，如电子和医药领域。贵金属的产品周期包括从矿石开采原材料、通过专门的复杂加工技术成型直到回收处理。
在制造时尚首饰时，人们往往采用便于加工的材料，如黄铜、锌合金或钢。根据视觉的要求，然后再用装饰性的金属涂层进行覆盖。通常使用X射线荧光法可以快速、无损和准确的测量。
一、功能：
1、采用X射线荧光光谱法：无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
3、可测量厚度范围：Ti钛—U铀
4、镀层层数：多至5层。
5、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米。
6、测量时间：通常60秒-180秒。
7、样品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。
8、测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
9、可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。
10、同时定量测量8个元素。
11、定性鉴定材料达20个元素。
X射线镀层测厚仪 STARK系列参数
