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怎么解决影响涂镀层测厚仪测量值的因素
日期：2024-05-13 05:16
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摘要：
影响涂镀层测厚仪测量值的因素及解决方案
涂镀层测厚仪与其他仪器一样，使用涂层测厚仪需要仪器性能和测试条件。 使用磁原理和涡流原理的涂层测厚仪是基于被测基材的电磁特性和与探针的距离来测量涂层厚度。 因此，必须影响被测基板的电磁物理特性和物理尺寸。磁通量和涡流的大小。 这影响了测量值的可靠性，将介绍以下问题。
1.边界距离如果探头与被测物体的边界，孔眼，空腔和其他横截面之间的距离小于指定的边界间隙，则测量误差将由磁通量不足或涡流载流子横截面引起 。 如果此时需要测量涂层厚度，则只能通过在相同条件下预先在未涂层表面上对其进行校准来进行测量。 （注：*新产品通过叠加校准具有独特的功能，可以达到3％到10％的精度）
2.在直线比较样品上将基材的表面曲率校准为初始值，然后在测量涂层厚度后减去初始值。 或参考下一篇文章。
3.贱金属的*小厚度贱金属必须具有给定的*小厚度，以便探头的电磁场可以完全包含在贱金属中。 *小厚度与测量设备的性能以及金属基底的特性有关。 进行测量而不校正测量值。 对于衬底厚度不足的影响，可以采取措施将相同材料的一块紧密粘附在衬底下面以消除它。 如果难以确定或无法添加基材，则可以通过与已知涂层厚度的样品进行比较来确定与额定值的差。 并在测量中考虑到这一点，并对测量值进行相应的校正或参考第2条进行校正。 那些可以校准的仪器可以通过调节旋钮或按钮来获得准确的直接读数厚度值。 相反，如上所述，可以利用厚度过小的影响来开发用于直接测量铜箔的厚度的厚度计。
4.表面粗糙度和表面清洁度为了在粗糙表面上获得代表性的平均测量值，需要进行多次测量。 显然，基材或涂层越粗糙，测量的可靠性就越差。 为了获得可靠的数据，基底的平均粗糙度Ra应小于涂层厚度的5％。 表面杂质应去除。 一些仪器具有消除这些“飞点”的上限和下限。
5.涂层材料中的铁磁和导电成分涂层中某些铁磁成分（例如颜料）的存在会影响测量值。 在这种情况下，用于校准的比较样品涂层应具有与测试对象涂层相同的电磁性能，并应在校准后使用。 使用的方法可以是在铝或铜板样品上施加相同的涂层，并通过涡流法测试后获得比较标准样品。