产品详情
简单介绍:
X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。
X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器,是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
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